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Oferta de PFC/TFM: Cuantificación del Envejecimiento del Procesador

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Palabras clave: Fiabilidad, banco de registros, datos almacenados.

Descripción: El tiempo de vida útil de los microprocesadores utilizados en dispositivos como los servidores, CPUs, tables y smartphones es un aspecto de diseño clave para los fabricantes de chips debido a que la couta de mercado depende en gran medida de la fiabilidad del producto. En este trabajo se caracterizará el envejecimiento de las celdas de memoria utilizadas para implementar una de las estructuras más críticas del procesador como es el banco de registros. El tiempo de vida de estas celdas depende fundamentalmente de los valores, frecuencia y tipo de datos almacenados. Este estudio nos permitirá entender qué aplicaciones reales tienen un mayor impacto en el deterioro del procesador y cómo se podría mitigar este efecto.

Requerimientos: Interés por la arquitectura de computadores y la fiabilidad del procesador.

Para más información contactar con: Alejandro Valero ( Esta dirección electrónica esta protegida contra spam bots. Necesita activar JavaScript para visualizarla ), Jesús Alastruey ( Esta dirección electrónica esta protegida contra spam bots. Necesita activar JavaScript para visualizarla ) y/o Darío Suárez ( Esta dirección electrónica esta protegida contra spam bots. Necesita activar JavaScript para visualizarla ).